电子元器件失效机理验证试验

摘要：

以某重点型号工程上失效的KG25A电路的失效模拟和失效机理验证为例,重点说明元器件的一种重要失效机理-电过应力(EOS)损伤模拟试验的方法和步骤,同时归纳出元器件失效模拟和失效机理验证的一般程序和方法.

关键词： 失效机理 电过应力 模拟试验 电子元器件 航空电子设备

作者: 马璇

作者单位: 中国航天科技集团九院771所(陕西西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会可靠性专业委员会学术年会

会议地点: 井冈山

会议语种:中文

页码: 416-420

在线出版日期: 2003-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）