会议专题

微波大功率单刀三掷开关分析改进

对微波大功率单刀三掷开关烧毁失效作了系统的分析和验证试验,确定了失效是由过电压击穿引起,针对这种失效原因,采取调整设计、优化工艺等改进措施使产品的失效模式得到有效控制.

大功率 开关 过电压击穿 失效分析

张晓明 王韧 黄云 郑廷圭 黄林祥

信息产业部电子第五研究所 成都亚光电子股份有限公司

国内会议

2003第十届全国可靠性物理学术讨论会

西宁

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100-102

2003-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)