长期储存试验中敏感参数的统计分析

摘要：

本文对某型号元器件贮存7年的性能参数Y的测试数据用方差分析法进行了统计分析,发现四个贮存点(A1、A2、A3、A4)样品的性能参数Y随时间发生了显著的变化;该元器件不同贮存点的性能参数Y之间有显著的差异.因而,性能参数Y可作为该元器件的敏感参数,进行长期贮存试验具有重要意义.

关键词： 长期贮存 方差分析法 敏感参数 统计分析 电子元器件

作者: 李坤兰

作者单位: 信息产业部电子第五研究所(广州市)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会

会议地点: 乐山

会议语种:中文

页码: 79-83

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）