IDDQ测试,挑战与发展

摘要：

本文介绍了IDDQ测试技术的检测能力极其在深亚微米阶段所遇到的挑战和一些解决办法.还讨论了IDDQ作为老化筛选有效补充的现实意义.

关键词： IDDQ 老化 筛选 测试技术

作者: 钟征宇

作者单位: 信产部电子五所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003第十届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 28-32

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）