多圈电位器旋转寿命试验技术

摘要：

本文主要论述微处理器控制的多圈电位器旋转寿命试验机的研制思想和方法.该试验机可控制六个工位同时工作,通过键盘设定试验中的重要参数,如角度,速度,圈数以及试验周数等,由点阵式液晶屏显示.针对该试验长时间的特点,在试验过程中可能出现的掉电现象,设计了掉电保护功能.

关键词： 多圈电位器 旋转寿命 掉电保护 点阵式液晶

作者: 陈波 唐锐 许少辉

作者单位: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003第十届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 163-166

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）