MCM—C中厚膜电阻寿命分布及退化规律的研究

摘要：

本文重点研究了MCM-C基板中厚膜电阻寿命的分布及退化规律,试验结果表明厚膜电阻的寿命分布服从威布尔分布.

关键词： MCM-C 厚膜电阻 寿命分布

作者: 周仲蓉 郭春生 程尧海 李志国 邹琼 张增照 莫郁薇

作者单位: 北京工业大学电子信息与控制工程学院(北京) 信息产业部电子第五研究所(广东广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003第十届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 156-162

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）