双极型半导体电路静电损伤失效分析

摘要：

从通信设备维修中发现的一例静电放电(ESD)导致模拟电路失效的典型案例分析入手,介绍了在失效分析中把管脚间测试结果同电路内部版图和逻辑图相结合来定位失效部位的方法.

关键词： 失效分析 模拟器件 静电放电 半导体电路

作者: 张延伟 林晨崧

作者单位: 中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心(北京) 空军司令部通信修配厂(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第四届航空航天装备失效分析研讨会

会议地点: 武夷山

会议语种:中文

页码: 172-173

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）