磁控溅射纳米PtSi薄膜表面和界面特征
采用磁控溅射方法在p-Si(111)衬底上淀积5nm Pt膜,退火后形成PtSi薄膜,利用原子力显微镜和高分辨电子显微镜观察了PtSi薄膜的表面和界面特征.实验结果表明,工艺条件影响PtSi薄膜的微观组织结构和表面形貌.随着衬底温度增加,薄膜表面由柱晶状团簇变为扁平状团簇,薄膜显微结构由多层变为单层.衬底加热有利于形成界面清晰、结构完整、成分单一的PtSi薄膜.
表面形貌 界面结构 磁控溅射方法 硅化铂 纳米薄膜
殷景华 蔡伟 王明光 郑玉峰 李美成 王培林 赵连城
哈尔滨理工大学应用科学学院(哈尔滨) 哈尔滨工业大学材料科学与工程学院(哈尔滨) 中国科学院沈阳金属研究所固体原子像实验室(沈阳)
国内会议
宁波
中文
74-76
2003-05-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)