纳米Al/Al<,2>O<,3>多层膜的光电子谱与电性能

摘要：

用热蒸发和自然氧化法制备纳米量级Al/Al<,2>O<,3>多层膜.检测XPS光电子能谱和UPS谱线,得到E<,i>(k<,i>″)关系曲线,并发现薄膜具有负阻特性.

关键词： 电性能 光电子谱 纳米多层膜 铝 氧化铝

作者: 薛钰芝 Martin A Green

作者单位: 大连铁道学院(大连) 澳大利亚新南威尔士大学光伏工程研究中心(新南威尔士)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届全国纳米技术与应用学术会议

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 65-69

在线出版日期: 2003-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）