电子设备强应力试验技术探索

摘要：

本文在国内外强应力试验技术研究及对影响我国电子产品可靠性的故障机理进行分析的基础上,提出了我国电子产品开展HALT、HASS试验的原理、方法及应用该试验技术可获得的效果.

关键词： 电子产品 高加速寿命试验 高加速应力筛选 可靠性

作者: 庄文青

作者单位: 信息产业部电子第五研究所广州市东莞庄路110号工程中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会

会议地点: 乐山

会议语种:中文

页码: 1-7

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）