存储器老化测试系统

摘要：

本文介绍了一种在存储器老化的过程中进行功能测试的老化测试方式,这种方式可分摊存储器的测试时间并降低测试成本.

关键词： 元器件 老化测试系统 存储器 功能测试

作者: 王剑

作者单位: 江南计算技术研究所(无锡)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会

会议地点: 乐山

会议语种:中文

页码: 202-205

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）