G.655光纤在应用中的问题探讨

摘要：

本文简要介绍了G.655光纤在光缆的应用中所出现的问题与读者共同探讨,其问题主要反映在工程光纤接续中的接头损耗普遍比G.652光纤大,本文简要对接头损耗大的原因进行分析,以供读者参考.

关键词： 折射率 熔接损耗 接头损耗 光纤

作者: 张建明

作者单位: 通光集团有限公司(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国通信学会2003年光缆电缆学术年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 221-225

在线出版日期: 2003-10-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）