关于减小采样开关非线性采样误差的自举法技术研究

摘要：

采样开关的非线性引起的采样误差是影响AD转换器性能的重要因素之一,本文通过采用自举法技术,在采样过程中使MOS开关的栅-源电压保持恒定,纠正采样时间的偏离,消除采样开关的非线性采样误差.

关键词： 采样开关 非线性采样误差 自举法技术 MOS开关

作者: 王磊 石寅

作者单位: 中国科学院半导体研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国半导体集成电路、硅材料学术会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 303-305

在线出版日期: 2003-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）