厚膜电阻器的噪声及其测量技术

摘要：

本文论述了厚膜电阻器中噪声的特点、种类和产生机理,重点介绍了厚膜电阻器噪声测量系统和技术以及分析方法.在以上讨论的基础上,分析了厚膜电阻器中的噪声与结构的关系以及低噪声化技术.

关键词： 厚膜电阻器 1/f噪声 可靠性 射频电路

作者: 胡净 杜磊 庄奕琪

作者单位: 西安电子科技大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国混合集成电路学术会议论文专辑

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 143-145

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）