噪声作为MCM质量与可靠性的诊断与检测工具

摘要：

电噪声是电路系统和电子元器件工作过程中普遍存在的现象.以前人们对噪声研究的目的是为了降低元器件和电路中的噪声.后来通过对噪声产生机理的深入研究,发现噪声对于影响元器件和电路质量和可靠性的缺陷极为敏感,因而近年来开始应用噪声作为电子元器件质量和可靠性新的诊断和检测工具<””1,2”>.

关键词： 噪声 多芯片组 可靠性诊断

作者: 杜磊 庄奕琪 胡净

作者单位: 西安电子科技大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国混合集成电路学术会议论文专辑

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 137-142

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）