真空绝缘条件下沿面闪络的电子触发极化松弛理论
本文从假说提出的实验依据、电荷陷阱化过程、电介质充电机理、空间电荷稳定性被破坏以及沿面闪络发生等多角度,系统地论述了Blaise和Gresus提出的、目前在学界认同感较强的基于极化能量释放导致沿面闪络的新假说,即电子触发极化松弛理论,简称ETPR(Electron Triggered Polarization Relaxation).根据ETPR,提出性能优良的绝缘介质应尽量减少极化子陷阱以降低空间电荷的密度.分析了该假说的局限性所在,即无法对真空绝缘体承受高压后能够在几纳秒时间内发生闪络这一物理现象作出合理的解释.
极化能 真空绝缘 沿面闪络 电子触发 极化松弛 陷阱电荷
高巍 孙广生 严萍
中国科学院电工研究所(北京)
国内会议
西安
中文
92-95
2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）