元器件内部气体含量与可靠性研究

摘要：

本文探讨了密封元器件内部气体含量超标对元器件质量可靠性的危害性:A、造成元器件内部环境的化学污染,加速对内部金属的腐蚀作用,导致元器件失去应用的功能;B、引起元器件内部的软焊料和碳膜发生氧化反应,影响元器件的质量和贮存寿命;C、导致元器件绝缘性能下降或参数超差;D、低温下引起继电器功能失效等.同时,对密封元器件内部气体含量超标的原因也作了分析,并提出了一些改进措施.

关键词： 元器件 可靠性 气体含量 水汽含量 腐蚀

作者: 毛振敏 李京苑

作者单位: 航天科技集团一院物资部

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国混合集成电路学术会议论文专辑

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 125-129

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）