MOSFET和IGBT并联软开关技术的仿真研究

摘要：

本文讨论了MOSFET和IGBT并联工作的软开关技术,通过仿真研究了这种技术在有源箝位正激式电路中的应用特性,验证了该技术的优越性.

关键词： 并联 软开关 有源箝位 仿真

作者: 何凯 王永

作者单位: 北京航空航天大学(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会航空电器工程第六届学术年会

会议地点: 兰州

会议语种:中文

页码: 113-116

在线出版日期: 2003-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）