相关双采样的理论和应用

摘要：

详细探讨了CCD和CMOS焦平面器件信号处理常用的相关双采样的技术原理,推导了相关双采样对噪声的传递函数及其幅频特性,分析和总结了相关双采样电路的重要性质.讨论了相关双采样的技术优势及其实际应用问题.相关双采样电路可以非常有效地压缩噪声功率,抑制l/f噪声和低频电源噪声,它可以检出比噪声更小的微弱信号,是一种优越的弱信号检测技术,它在CCD和CMOS焦平面器件的信号处理技术中占有相当重要的地位.

关键词： 相关双采样 采样 CDS Sampling ROIC CCD CMOS 焦平面探测器

作者: 赵晋云

作者单位: 昆明物理研究所(昆明)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003年全国光电技术学术交流会暨第十六届全国红外科学技术交流会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 95-101

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）