焦平面探测器信号读出和采样过程的噪声传递

摘要：

分析焦平探测器的噪声在CCD和CMOS信号读出以及相关双采样电路之间的噪声传递过程,讨论CCD、CMOS器件和相关双采样电路的输入输出关系及其对信噪比的影响,说明三者在级联之后输出的噪声性质和特点.CCD和CMOS读出电路都不会将探测器的噪声模拟输出,CCD和CMOS探测器组件的折算噪声要比探测器的噪声小,通过相关双采样电路后检出的噪声会更小.

关键词： 相关双采样 读出电路 噪声 CDS CCD CMOS FPA 焦平面探测器

作者: 赵晋云

作者单位: 昆明物理研究所(昆明)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003年全国光电技术学术交流会暨第十六届全国红外科学技术交流会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 89-94

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）