碲镉汞材料Raman光谱中662cm<”-1>和749cm<”-1>散射峰的识别

摘要：

利用显微Raman光谱仪在光谱范围50cm<”-1>~1000cm<”-1>测量了两块碲镉汞(Hg<,0.80>Cd<,0.20>Te)体晶片的Raman光谱,观察到了662cm<”-1>和749cm<”-1>的两个新Raman散射峰;为了识别两个新Raman散射峰,在相同的光谱范围还测量了一块用液相外延LPE方法生长的碲镉汞(Hg<,0.80>Cd<,0.20>Te)外延薄膜的Raman光谱,在LPE碲镉汞薄膜的Raman谱中只观察到749cm<”-1>的Raman散射峰.通过比较分析,可以肯定的判断,碲镉汞体材料中662cm<”-1>散射峰为材料的多级声子散射峰,749cm<”-1>峰为与碲镉汞材料表面Te氧化物相关的散射峰.

关键词： 碲镉汞体材料 LPE碲镉汞薄膜 Raman光谱 多级声子散射 表面氧化物 红外探测器

作者: 黄晖 唐莹娟 潘顺臣

作者单位: 昆明物理研究所(昆明)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003年全国光电技术学术交流会暨第十六届全国红外科学技术交流会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 19-21

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）