会议专题

热释电红外焦平面阵列的非均匀性分析与校正

在采用红外焦平面阵列的热像仪中,探测器的性能是至关重要的.非均匀性是限制红外焦平面阵列(IRFPA)性能的重要因素之一,实用化、实时的非均匀性校正是红外焦平面阵列器件应用的一个关键技术.本文在详细分析红外焦平面阵列非均匀性的基础上,给出了热释电红外焦平面阵列输出的数学模型,并针对热释电红外焦平面阵列非均匀性的特点,采用高通滤波的方法实现了其非均匀性校正,并设计了该算法的硬件电路,进行了软件的编程,取得了较好的校正效果.

红外焦平面 非均匀性校正 热释电 高通滤波 数学模型

闫文成 皮德富

南京理工大学442教研室(南京)

国内会议

2003年全国光电技术学术交流会暨第十六届全国红外科学技术交流会

武汉

中文

61-64

2003-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)