Interface morphologicS in strained Si1-xGex／Si multi1ayers on vicinal Si（111） substrates probed by grazing-angle x-ray scattering

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国X射线衍射学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:英文

在线出版日期: 1998-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）