用FTIR测量碲镉汞晶片组份X值的误差分析

摘要：

该文九个碲镉汞标准组份样品（组份分别从0.195～0.230）进行不同条件的测量。根据统计分布理论分别计算出了它们的平均偏差和均方根偏差。并计算出用FTIR测量碲镉汞晶片组份X值的总误差δ∑=11.05cm<”-1>。

关键词： 误差分析 碲镉汞 FTIR

作者: P.维克多 吴人齐

作者单位: 乌克兰 华北光电技术研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国红外科学技术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）