64×64红外焦平面用读出电路测试分析

摘要：

读出电路是红外焦平面器件的重要组成部分之一。该文介绍了64×64凝视型碲镉汞红外焦平面的硅CMOS读出电路的测试分析情况。首先介绍该读出电路的电路功能及设计特点，叙述了工作方式及特点。对该读出电路的输出性能，噪声，功率，阈值电压及低温性能作了测试与讨论。

关键词： 测试 读出电路 红外焦平面

作者: 韩建忠 唐剑 方龙江 喻松林 严峻

作者单位: 华北光电路技术研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国红外科学技术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）