红外焦平面硅CMOS信号处理电路测试技术

摘要：

该文详细介绍利用DIC-8032大型测试系统对红外焦平面信号电路的测试方法，测试码点的生成，电路的故障诊断和版图验证及测试程度的开发性。

关键词： 测试 信号电路 红外焦平面阵列

作者: 周劲松 孙明峰

作者单位: 东北微电子研究所(沈阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国红外科学技术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）