软件测试方法在高级测试中的一例应用

摘要：

本文从硬件描述语言(Hardware Description Language,HDL)和软件程序语言的相似性出发,给出一个寄存器传输级测试生成方法.首先为Verilog描述的电路建立对应的内部层次模型;其次运用分支覆盖和位功能覆盖策略生成高级测试用例(test case);最后通过采用不同的填充方法,得到高级测试序列.本方法实现了程序的自动执行,门级故障模拟结果说明此方法是可行的.

关键词： 高级测试 硬件描述语言 寄存器传输级 Verilog 软件测试 测试生成

作者: 高燕 沈理

作者单位: 中国科学院计算技术研究所,系统结构室

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国容错计算机学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 225-231

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）