连接EDA和ATE的双向测试语言:STIL

摘要：

标准测试接口语言(STIL)是一种面向器件的通用的图形交换格式(协议),它定义测试的功能和参数,支持在仿真器、自动测试图形发生器(ATPG)、内置自测试(BIST)和自动测试设备之间无需转换的传输测试图形.作为一种开放的图形描述规范,它具有易理解,可读性强,易传输,易调试,易修正等特点.文章将通过实例说明这些特征,同时针对多个测试项目的并发测试和串行测试,给出具体的操作流程.

关键词： STIL语言 测试图形 纯扫描设计 数字集成电路 图形交换格式

作者: 吴明行 韩银和 李晓维

作者单位: 中国科学院计算技术研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国容错计算机学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 218-224

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）