基于CMOS电路瞬态电流I<,DDT>分析的故障诊断新技术

摘要：

本文介绍了CMOS数字集成电路故障诊断技术的基本方法,探讨了基于CMOS电路瞬态电流I<,DDT>分析的故障诊断新技术的基本原理和作用.论述了该故障诊断新技术的国内外研究动态,展望了其在超大规模集成电路VLSI故障诊断、失效机理研究及可靠性提高等方面的作用和意义及其广阔的应用前景.

关键词： 故障诊断 瞬态电流I<,DDT> 小波分析 故障特征参数 数字集成电路

作者: 焦慧芳 魏建中 王群勇 罗雯 阳辉 贾新章

作者单位: 西安电子科技大学微电子所(西安);信息产业部电子五所元器件检测中心(广州) 信息产业部电子五所元器件检测中心(广州) 西安电子科技大学微电子所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国容错计算机学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 214-217

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）