基于概率分析的扫描测试功耗研究

摘要：

本文通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析,建立了基于概率统计的扫描链功耗模型.该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计;在此基础上,依据扫描单元的置1概率重排扫描链可以有效地降低扫描功耗.实验结果表明,这种方法是有效可行的.

关键词： 测试功耗 扫描测试 概率分析法 电路功耗

作者: 陈治国 徐勇军 李晓维

作者单位: 电子科技大学物理电子学院(成都);中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京) 中国科学院计算技术研究所信息网络室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国容错计算机学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 110-115

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）