芯片级系统在线测试技术

摘要：

在线测试是基本容错技术之一.本文把在线测试技术概括为差错控制码、重复与比较、在线监督等三类,对其发展历史进行了回顾,重点是20世纪90年代以来的成果,包括芯片设计方案、原型及产品.研究结果表明,在线测试技术已经融入了高性能处理机芯片的设计之中.

关键词： 在线测试 处理机 容错计算 系统芯片 计算机技术

作者: 员春欣 江建慧

作者单位: 同济大学计算机科学技术系(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国容错计算机学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 96-104

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）