存储器内建自测设计与分析

摘要：

作为可测性设计的一种,MBIST(Memory Built-in Self-test)是在电路内部置入测试电路以对Memory进行测试,它的好处是可以节省测试时间;减少测试向量的存放空间;可以很好地降低测试成本.本文基于一个实际项目介绍了有关Memory BIST的设计过程和设计分析,并给出部分结果.

关键词： 可测性设计 存储器 控制器 内建自测试 测试算法

作者: 杨修涛 鲁巍 李晓维

作者单位: 中国科学院计算技术研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国容错计算机学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 90-95

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）