时序电路故障可测性分析

摘要：

对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素.在本文提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测故障的算法,运用该算法无须搜索便可识别出时序电路中相当一部分不可测故障.针对ISCAS89电路的实验结果也验证了其有效性.

关键词： 时序电路 不可测故障 可控性计算

作者: 王仲 宫云战

作者单位: 装甲兵工程学院信息工程系(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国容错计算机学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 85-89

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）