基于JTAG标准的边界扫描结构在一款通用CPU中的设计
边界扫描技术是一种重要的可测性设计(DFT)技术,采用该技术不仅可以方便地测试芯片或PCB的逻辑功能,还可以测试IC或PCB之间的连接是否存在故障.边界扫描设计已逐渐成为芯片设计中不可或缺的部分,IEEE为其制定了相关标准,即IEEE1149.1标准(也称为JTAG标准).本文深入剖析了JTAG标准的精髓,分析了其组成、功能与时序控制等关键技术,并结合一款通用CPU的具体要求,给出了一种实现JTAG结构的具体方法,并介绍了其功能测试的方法.
边界扫描 可测性设计 JTAG标准 CPU 功能测试
鲁巍 杨修涛 李晓维
中国科学院计算技术研究所(北京)
国内会议
北京
中文
79-84
2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）