超深亚微米ASIC设计中的信号完整性

摘要：

在超深亚微米ASIC设计中,由互连寄生参数引起的信号完整性问题严重影响着芯片的逻辑功能和时序完整性,成为设计者关注的重点.本文介绍了超深亚微米工艺设计中主要的信号完整性问题及其产生机理,概述了在设计流程中分析、预防或修复这些问题的主要解决方案.

关键词： 超深亚微米 信号完整性 串扰 IR压降 设计流程

作者: 金利峰 胡铭曾 王彦辉

作者单位: 哈尔滨工业大学计算机学院(哈尔滨) 江南计算技术研究所(无锡)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届计算机工程与工艺全国学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 308-312

在线出版日期: 2003-08-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）