微型柱分离-ICP-MS法测定高纯氧化钐中14个稀土杂质
研究了微型柱分离-电感耦合等离子质谱法测定高纯Sm<,2>O<,3>中痕量Dy、Ho、Er、Tm的方法,采用Cyanex272负载树脂微型分离柱,选定了分离大量Sm<,2>O<,3>基体的实验条件,分离周期为32min.最终建立了微型柱分离Sm后测定Dy、Ho、Er、Tm以及内标补偿法直接测定其它稀土杂质的高纯Sm<,2>O<,3>中14个稀土杂质的ICP-MS分析方法.方法测定下限为0.1μg/g-5.0μg/g,加标回收率为90％-115％,相对标准偏差为0.9％-5.1％.方法可满足快速测定99.99％ Sm<,2>O<,3>中14个稀土杂质的要求.
电感耦合等离子体质谱 高纯Sm<,2>O<,3> 稀土杂质 氧化钐 痕量试验
李继东 伍星 郑永章
北京有色金属研究总院(北京)
国内会议
海口
中文
58-61
2003-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）