工业计算机薄片层析及其板、壳材料检测

摘要：

本文讨论了工业射线计算机薄片层析(CL,Computed Laminography)在板、壳材料结构检测中的应用,研究了一种抑制环形伪像的重构方法,并对其应用与重构方法进行了实验研究和计算机模拟.

关键词： 射线检测 ICT 板壳材料 工业CT 断层扫描 材料检测

作者: 路宏年 杨民 张吉堂

作者单位: 北京航空航天大学现代无损检测中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 国际CT和三维断面成像理论与应用学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 116-118

在线出版日期: 2000-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）