IDDQ测试生成系统模拟实现

摘要：

该文采用了一种新的电路描述方法，运用于CMOS开关级电路及桥接故障模型；给出了几个主要的数据类型及操作；介绍了基本算法，并分析了算法的主要特点；根据这一算法，设计了一个实用测试生成系统，并以标准电路T74181为例，进行了验证。

关键词： IDDQ测试 桥接故障 测试生成系统 电路 算法

作者: 张新林

作者单位: 师专数学系(湖南)

会议类型: 国内会议

会议名称: ”98全国计算机测试与诊断学术会议

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 63～69

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）