星载微机软件抗SEU加固技术研究

摘要：

该文从分析微机芯片80C86和8031C内部结构入手，进行了空间单粒子效应引起的故障分析，并提出了软件应采用的加固对策。

关键词： 单粒子效应 星载微机 软件加固

作者: 周彦平 杨生胜 张英 顾克伟

作者单位: 航天工业总公司五院五一零所(兰州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会

会议地点: 江苏扬州

会议语种:中文

页码: 220～232

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）