80C86单粒子效应测试系统实验

摘要：

单粒子效应是影响卫星正常工作主要因素之一，它是由于空间带电离子入射到超大规模集成电路（如ＳＲＡＭ、ＣＰＵ、ＦＰＧＡ等）中所引起的。由于ＣＰＵ单粒子效应测试系统复杂，故国内在这一方面的报道不多。该文较详细介绍作者所研制的８０Ｃ８６单粒子效应测试原理、实验方案及其数据处理。

关键词： 单粒子效应 CPU 辐射 防护 测试系统

作者: 陈晓华 贺朝会 姬琳 王燕平

作者单位: 核技术研究所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第10届全国计算机在现代科学技术领域应用学术会议

会议地点: 扬州

会议语种:中文

页码: 90～92

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）