会议专题

T检验在大直径测量系统中的应用

大直径尺寸高精度测量技术一直是世界上尚未圆满解决的技术难题,采用“标记法”进行大直径测量,经实验测试,效果很好。该文主要论述了“标记法”大直径测量的原理,t检验原理以及t检验在大直径测量中的应用,实验结果及结论。

大直径测量系统 T检验 标记法

张连柱 舒鑫 殷镇良 韩学东

滨工程大学计算机与信息科学系

国内会议

全国第十一次微计算机学术交流会

武昌

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625~628

1998-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)