BIST技术及其在Memory中的应用

摘要：

本文主要阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并进一步介绍该项技术在Memory单元电路中的实现过程.

关键词： 内建自检测 线性反馈 移位寄存器 特征分析 集成电路

作者: 汪滢 辛晓宁 王宏 马纪虎

作者单位: 中科院沈阳自动化研究所(沈阳);沈阳化工学院信息工学院(沈阳) 中科院沈阳自动化研究所(沈阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届”测量与控制在资源节约、环境保护中的应用”学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 633-634,637

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）