BIST可测性设计的低功耗技术

摘要：

在BIST测试过程中,测试电路的加入使得数字系统的功耗明显加大,低功耗的BIST设计得到人们的广泛关注.本文介绍几种BIST的低功耗设计技术,各种方法的综合应用会使系统的功耗指标达到最佳.

关键词： 内建自检测 片上系统 故障覆盖率 测试电路 系统功耗

作者: 李金凤 汪滢 辛晓宁

作者单位: 沈阳化工学院信息工程学院(沈阳) 沈阳化工学院信息工程学院(沈阳);中科院沈阳自动化研究所(沈阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届”测量与控制在资源节约、环境保护中的应用”学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 629-630,632

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）