基于图论的最小测试集的寻找

摘要：

电路的测试与诊断已有了广泛的研究,但被测电路的最小测试集的寻找一直是个难题.本文引用图论中的有关概念,对使用离散事件系统理论进行建模的电路进行最小测试集的查找,能够方便快捷的获得被测电路的最小测试集.最后用实例对该方法进行了验证.

关键词： 图论 离散事件系统 最小测试集 电路测试 故障诊断 数字电路

作者: 蒋薇薇 鲁昌华 章其波 刘春

作者单位: 合肥工业大学(合肥)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届”测量与控制在资源节约、环境保护中的应用”学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 295-297

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）