充电参数对PTFE多孔膜电荷稳定性的影响

摘要：

利用表面电位衰减测量和热刺激放电电流谱(TSD)分析,研究了PTFE(Polytetrafluoroethylene)多孔膜驻极体中的沉积电荷稳定性与充电条件的关系.结果显示,沉积电荷的稳定性与充电参数有关.本文对这一现象进行了唯象的解释.同时研究了此多孔材料在不同充电参数条件下捕获电荷能阱分布的变化,初步描述其电荷捕获输运规律.

关键词： 驻极体 聚四氟乙烯多孔膜 充电参数 多孔材料

作者: 吴越华 夏钟福 王飞鹏 邱勋林

作者单位: 同济大学波尔固体物理研究所(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届”测量与控制在资源节约、环境保护中的应用”学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 181-182

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）