会议专题

非扫描并行三维共焦检测技术综述

共焦测量方法由于其高精度、高分辨率及易于实现三维成像数字化的独特优势而被广泛应用.近年来,非扫描三维并行共焦技术引起各国专家的普遍关注,该技术将单点扫描变为多路并行探测,同步对被测表面的不同点进行检测,从而无需扫描实现全场同步测量.该文论述了近年来国内外在共焦并行全场检测技术方面的研究进展,介绍了国内外几种并行共焦检测系统的情况,及作者已进行的有关研究进展.

三维探测 共焦并行探测 微光学器件 共焦测量

王永红 余晓芬 俞建卫 黄其圣 徐科军

合肥工业大学仪器仪表学院(合肥)

国内会议

中国仪器仪表学会第五届青年学术会议

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2003-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)