使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪测量镀金层厚度的方法研究
本文根据荧光X射线测厚仪的原理,使用扫描电子显微镜和X线能谱仪结合的方法,尝试在微观区域定位测量连接器镀金层厚度.
镀金层厚度 扫描电子显微镜 X射线能谱仪
贺占平 周怡琳 章继高
北京邮电大学自动化学院电接触科研室(北京)
国内会议
珠海
中文
537-538
2003-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
镀金层厚度 扫描电子显微镜 X射线能谱仪
贺占平 周怡琳 章继高
北京邮电大学自动化学院电接触科研室(北京)
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537-538
2003-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)