会议专题

使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪测量镀金层厚度的方法研究

本文根据荧光X射线测厚仪的原理,使用扫描电子显微镜和X线能谱仪结合的方法,尝试在微观区域定位测量连接器镀金层厚度.

镀金层厚度 扫描电子显微镜 X射线能谱仪

贺占平 周怡琳 章继高

北京邮电大学自动化学院电接触科研室(北京)

国内会议

第二届全国扫描电子显微学会议

珠海

中文

537-538

2003-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)