基于AFM的振幅曲线研究探针—样品间的相互作用

摘要：

在原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)的拍击工作模式(Tapping Mode)下,探针的振幅受探针—样品间作用力的影响.该作用力与两者的间距密切相关,以探针—样品间作用力的平衡位置为界,将探针—样品间距划分为引力作用区域和斥力作用区域.本文中通过实验得到了探针的振幅随探针—样品间距变化的关系曲线——振幅曲线,详细讨论了振幅曲线与探针—样品间作用力的关系;并通过计算机模拟验证了振幅随探针—样品间距的变化关系.结果表明研究软样品时应该尽可能选取引力作用区域,以避免测量对样品的影响.

关键词： 振动曲线 探针样品作用 拍击模式 原子力显微术 原子力显微镜

作者: 王艳霞 李艳宁 傅星 李正光 胡小唐

作者单位: 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室(天津);青岛科技大学信息控制与工程学院(青岛) 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室(天津) 青岛热电公司(青岛)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第五届青年学术会议

会议地点: 天津

会议语种:中文

页码: 216-218,221

在线出版日期: 2003-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）