带薄层的板反射波谱分析

摘要：

在类似铝-薄膜结构中,需要从厚板一例检测薄膜层的厚度或物性变化.为此,本文利用”透声频率窗”附近总反射波振幅谱极小值所对应的频率飘移来检测薄层的厚度或物性变化.

关键词： 粘接结构 铝-薄膜结构 反射波谱分析 超声检测 薄层厚度 物性变化

作者: 毛捷 王小民 廉国选 李明轩

作者单位: 中国科学院声学研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国声学学会2003年青年学术会议”CYCA”03”

会议地点: 济南

会议语种:中文

页码: 276-278

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）