小麦对叶锈病的部分抗性基因的定位
借助大麦染色体ＡＦＬＰ标记连锁遗传图和ＭａｐＱＴＬ Ｖ３．０作图软件，对大麦叶锈病的数量抗性基因（ＱＲＬ）进行了定位分析，明确了大麦部分抗性品种Ｖａｄａ对叶锈病的潜育期由分别位于染色体１、２、６、７上离短臂末端７９ｃＭ、１８６ｃＭ、５８ｃＭ和１１７ｃＭ处的４个数量抗性基因所控制。发现位于第７染色体上的ＱＲＬ存在着病菌致病类型的专化性。文中讨论了区间作图法（ＩＭ）和复合区间作图法（ＣＩＭ）的优缺点，建议以多种方法构建ＱＴＬ图谱，并优先标定共同发现的ＱＴＬ。
大麦叶锈病 数量抗性基因 重组自交系
陈万权 漆小泉 R.E.Niks
农业科学院植物保护研究所(北京) Wageningen农业大学植物育种系
国内会议
北京
中文
381～382
1998-03-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）